【英文标准名称】:StandardTestMethodsforEvaluatingtheRelativeLightfastnessandWeatherabilityofPrintedMatter
【原文标准名称】:印刷品的相对光照牢度和耐气候性评定的标准试验方法
【标准号】:ASTMD3424-2001
【标准状态】:现行
【国别】:
【发布日期】:2001
【实施或试行日期】:
【发布单位】:美国材料与试验协会(US-ASTM)
【起草单位】:D01.56
【标准类型】:(TestMethod)
【标准水平】:()
【中文主题词】:评定;涂漆;耐光性;涂料;工艺
【英文主题词】:acceleratedexposure;carbon-arcapparatus;colordifferencemeasurements;daylightbehindwindowglass;fluorescentlampapparatus;grayscale;lightfastness;outdoorexposure;printedmatter;printinginks;weatherfastness;xenon-arcapparatus
【摘要】:1.1Thesetestmethodscoverthedeterminationoftherelativelightfastnessandweatherabilityofprintedmatterunderthefollowingsevenconditions,ofwhichtwoinvolveexposuretonaturaldaylightandfiveinvolveacceleratedproceduresinthelaboratory:1.1.1TestMethod1--Daylightbehindwindowglass,1.1.2TestMethod2--Outdoorweathering,1.1.3TestMethod3--Xenon-arcapparatuswithwindowglassfilterstosimulatedaylightbehindwindowglass,1.1.4TestMethod4--Xenon-arcapparatuswithwatersprayanddaylightfilterstosimulateoutdoorweathering,1.1.5TestMethod5--Enclosedcarbon-arcapparatuswithoutwaterspray,1.1.6TestMethod6Enclosedcarbon-arcapparatuswithwaterspray,and1.1.7TestMethod7--Fluorescentlampapparatustosimulateindoorfluorescentlightingincombinationwithwindow-filtereddaylight.1.2Thesetestmethodsrequirethatasuitableprintorothercontrol(referencestandard)berunalongwiththetestsample.Colorchangesduetoconditionsofexposuremaybeevaluatedbyvisualexaminationorinstrumentalmeasurement.1.3Thesetestmethodsareapplicabletoprintsonanyflatsubstrateincludingpaper,paperboard,metallicfoil,metalplate,andplasticfilm,andareproducedbyanyprintingprocessincludingletterpress,offsetlithography,flexography,gravure,andsilkscreen.1.4Thisstandarddoesnotpurporttoaddressallofthesafetyconcerns,ifany,associatedwithitsuse.Itistheresponsibilityoftheuserofthisstandardtoestablishappropriatesafetyandhealthpracticesanddeterminetheapplicabilityofregulatorylimitationspriortouse.Forspecifichazardstatements,seeSection8.
【中国标准分类号】:A17
【国际标准分类号】:87_080
【页数】:5P.;A4
【正文语种】:
基本信息
| 标准名称： | 半导体二极管热阻抗测试方法 |
| 英文名称： | Measurment method for thermal impedance of semiconductor diodes |
| 中标分类： |
|
| 发布部门： | 中华人民共和国信息产业部 |
| 发布日期： | 2000-10-20 |
| 实施日期： | 2000-10-20 |
| 首发日期： | 1900-01-01 |
| 作废日期： | 1900-01-01 |
| 归口单位： | 中国电子技术标准化研究所 |
| 起草单位： | 中国电子技术标准化研究所 |
| 起草人： | 王长福、顾振球、易本健 |
| 出版社： | 工业电子出版社 |
| 出版日期： | 2000-10-20 |
| 页数： | 14页 |
适用范围
本标准规定了半导体二极管的稳态热阻和瞬态热阻抗的测试方法。
本标准适用于整流二极管、瞬态电压抑制二极管、功率齐纳二极管和某些齐纳、信号和开关二极管稳态热阻抗的测试。
前言
没有内容
目录
没有内容
引用标准
GB 128A-1997 半导体分立器件试验方法
所属分类：