SJ 2214.4-1982 半导体光敏二极管反向击穿电压的测试方法
作者:标准资料网
时间:2024-05-21 07:10:22
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基本信息
| 标准名称： | 半导体光敏二极管反向击穿电压的测试方法 |
| 英文名称： | Method of measurement for reverse break-down voltage of semiconductor photodiodes |
| 中标分类： | 通信、广播 >> 通信、广播综合 >> 技术管理 |
| 发布日期： | 1982-11-30 |
| 实施日期： | 1983-07-01 |
| 首发日期： | 1900-01-01 |
| 作废日期： | 1900-01-01 |
| 出版日期： | 1900-01-01 |
| 页数： | 1页 |
适用范围
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前言
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目录
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引用标准
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所属分类： 通信 广播 通信 广播综合 技术管理
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