PD ES 59008-6-2-2001 半导体模具的数据要求.交换数据格式和数据地址.数据地址

作者:标准资料网 时间:2024-05-19 05:23:57   浏览:8260   来源:标准资料网
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【英文标准名称】:Datarequirementsforsemiconductordie.Exchangedataformatsanddatadictionary.Datadictionary
【原文标准名称】:半导体模具的数据要求.交换数据格式和数据地址.数据地址
【标准号】:PDES59008-6-2-2001
【标准状态】:现行
【国别】:英国
【发布日期】:2001-06-15
【实施或试行日期】:2001-06-15
【发布单位】:英国标准学会(BSI)
【起草单位】:BSI
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:数据布置;半导体;数据;词典;数据表示;集成电路;电连接器;电子设备及元件
【英文主题词】:informationexchange;integratedcircuits;semiconductordevices;electronicengineering;electricalengineering;specification(approval);electronicequipmentandcomponents
【摘要】:SpecifiesthedictionaryfordiedataincludingdefinitionsofalldiepropertiesaccordingtotherequirementsofIEC61360.
【中国标准分类号】:L40
【国际标准分类号】:01_040_31;31_080_01
【页数】:26P;A4
【正文语种】:英语


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基本信息
标准名称:热处理井式电阻炉能耗分等
中标分类: 机械 >> 机械综合 >> 技术管理
替代情况:ZB J01013-1988
发布部门:机械科学研究院
发布日期:1999-12-30
实施日期:2000-06-01
首发日期:1900-01-01
作废日期:1900-01-01
归口单位:机械科学研究院
出版日期:1900-01-01
页数:6 页
批文号:国机管[1999]688号
适用范围

JB/T 50163-1999 本标准是对 ZB J01 013-88《热处理井式电阻炉 能耗分等》的修订。 本标准规定了机械工业企业热处理井式电阻炉能耗等级。 热处理井式电阻炉按可比单耗分为一等、二等、三等。可比单耗达不到三等指标的属于等外。 本标准于 1988 年 3 月 5 日首次发布。

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所属分类: 机械 机械综合 技术管理
【英文标准名称】:StandardPracticeforScanningElectronMicroscopeBeamSizeCharacterization
【原文标准名称】:扫描电子显微镜射束尺寸特征描述标准实施规程
【标准号】:ASTME986-2004(2010)
【标准状态】:现行
【国别】:美国
【发布日期】:2004
【实施或试行日期】:
【发布单位】:美国材料与试验协会(US-ASTM)
【起草单位】:E04.11
【标准类型】:(Practice)
【标准水平】:()
【中文主题词】:
【英文主题词】:electronbeamsize;E766;graphitefiber;magnification;NIST&x2013;SRM2069B;resolution;SEM;SEMperformance;spotsize;waveform;Electronmicroscopy;Scanningelectronmicroscope(SEM)
【摘要】:ThetraditionalresolutiontestoftheSEMrequires,asafirststep,aphotomicrographofafineparticulatesampletakenatahighmagnification.Theoperatorisrequiredtomeasureadistanceonthephotomicrographbetweentwoadjacent,butseparateedges.Theseedgesareusuallylessthanonemillimetreapart.TheirimagequalityisoftenlessthanoptimumlimitedbytheS/Nratioofabeamwithsuchasmalldiameterandlowcurrent.Operatorjudgmentisdependentontheindividualacuityofthepersonmakingthemeasurementandcanvarysignificantly.UseofthispracticeresultsinSEMelectronbeamsizecharacterizationwhichissignificantlymorereproduciblethanthetraditionalresolutiontestusingafineparticulatesample.1.1Thispracticeprovidesareproduciblemeansbywhichoneaspectoftheperformanceofascanningelectronmicroscope(SEM)maybecharacterized.TheresolutionofanSEMdependsonmanyfactors,someofwhichareelectronbeamvoltageandcurrent,lensaberrations,contrastinthespecimen,andoperator-instrument-materialinteraction.However,theresolutionforanysetofconditionsislimitedbythesizeoftheelectronbeam.Thissizecanbequantifiedthroughthemeasurementofaneffectiveapparentedgesharpnessforanumberofmaterials,twoofwhicharesuggested.ThispracticerequiresanSEMwiththecapabilitytoperformline-scantraces,forexample,Y-deflectionwaveformgeneration,forthesuggestedmaterials.TherangeofSEMmagnificationatwhichthispracticeisofutilityisfrom1000to50000x00D7;.Highermagnificationsmaybeattempted,butdifficultyinmakingprecisemeasurementscanbeexpected.1.2Thisstandarddoesnotpurporttoaddressallofthesafetyconcerns,ifany,associatedwithitsuse.Itistheresponsibilityoftheuserofthisstandardtoestablishappropriatesafetyandhealthpracticesanddeterminetheapplicabilityofregulatorylimitationspriortouse.
【中国标准分类号】:N32
【国际标准分类号】:37_020
【页数】:3P.;A4
【正文语种】:英语